KEITHLEY 2600B系列数字源表给电子元器件和半导体制造商提供了一个灵活高效的方案，适合于精确DC、脉冲和低频AC的源-测量测试。基于最初KEITHLEY 2400系列数字源表的紧凑集成源-测量技术，KEITHLEY 2600B系列仪器在I-V测试应用中 能够提供较高的测试速度。KEITHLEY 2600B系列数字源表既可以用作桌面级I-V特性分析工具，也可以成为多通道I-V测试系统的组成部分。对于桌面级的应用，KEITHLEY 2600B系列提供一款嵌入式TSP Express测试软件，允许用户快速、方便地进行常用的I-V测试，无需编程或安装软件。对于系统级应用，KEITHLEY 2600B数字源表的TSP架构和新增功能，例如，并行测试能力和精密时钟同步，提供了较高数据吞吐量，从而降低了测试成本。

主要性能指标：

• 一个紧凑的单元中综合了如下功能：精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器 代码后向兼容吉时利2600系列数字源表便于更换 TSP Express软件工具实现快速、便捷的I-V测试 精密定时和信道同步（<500ns）
• 接触检测功能确保了高速及准确的测量
• 20,000读数/秒提供更快的测试时间和能力，捕捉器件瞬态性能
• 内置的测试脚本处理器(TSP)提供非并行系统的自动化测试，提高I-V测试的速度
• TSP-Link主/从控制架构将多台2600A数字源表无缝地整合成一个系统，将其作为一台独立的仪器进行编程和控制,TSP-Link总线支持每GPIB或IP地址多达32单元/64通道的通道扩展
• USB端口用于保存数据和测试脚本
• 免费的LabTracerTM2.0 软件，无需编程直接得到半导体I-V 特性曲线，易学易用
• LXI Class C兼容性提供高速数据传输并且实现快捷地远程测试、监控和排错
• 较高的SMU机架密度，适合自动化测试的应用

相关应用:

对多种器件进行I-V函数测试和特性分析，包括:

• 分立的和无源的元器件
• 双引脚 - 电阻、盘驱动器头、金属氧化物变阻器(MOV)、二极管、齐纳二极管、传感器、电容器、热敏电阻
• 三引脚 - 双极型小信号晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)等
• 并行测试 – 双引脚、三引脚元器件阵列
• 简单集成电路 – 光学、驱动器、开关、传感器
• 集成的器件－小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI)
• 模拟IC
• 射频集成电路(RFIC)
• 应用定制的集成电路
• 系统级芯片(SOC)器件
• 光电器件如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、显示器
• 上述器件的研发和特性分析

订购信息

KEITHLEY 2604B

电流：3A DC，10A脉冲/100fA 电压：40V/100nV 最大读数/秒：20,000 通道数：2

KEITHLEY 2612B

电流：1.5A DC，10A脉冲/100fA 电压：200V/100nV 最大读数/秒：20,000 通道数：2

KEITHLEY 2614B

电流：1.5A DC，10A脉冲/100fA 电压：200V/100nV 最大读数/秒：20,000 通道数：2

KEITHLEY 2634B

电流：1.5A DC，10A脉冲/1fA 电压：200V/100nV 最大读数/秒：20,000 通道数：2

KEITHLEY 2636B

电流：1.5A DC，10A脉冲/0.1fA 电压：200V/100nV 最大读数/秒：20,000 通道数：2

点击下载详细资料