4200A-SCS 是一种可以量身定制集成参数分析仪，可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) 和超快速脉冲式I-V 特性。作为高性能的参数分析仪， 4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。
4200A-SCS ClariusTM 基于GUI 的软件提供了清晰高效的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时可以投入使用的应用测试，Clarius Software 可以更深入地挖掘 研究过程，快速而又满怀信心。
4200A-SCS 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配置，随时对系统进行升级。使用强大的Clarius 软件，可以更加快速的完成I-V, C-V 和脉冲I-V 测试。

主要性能指标：

I-V 源测量单元(SMU)

• ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块
• 100 fA测量分辨率
• 选配前端放大器提供了 10 aA测量分辨率
• 10 mHz - 10 Hz 低频率电容测量
• 四象限操作
• 2 线或 4 线连接

C-V 多频率电容单元(CVU)

• AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)
• 1 kHz - 10 MHz 频率范围
• ± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源，可以扩展到± 210 V(420 V 差分)
• 选配 CVIV 多通道开关，在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU)
• 两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道
• 200 MSa/s，5 ns 采样率
• ±40 V (80 V p-p)，±800 mA
• 瞬态波形捕获模式
• 任意波形发生器 Segment ARB® 模式，支持多电平脉冲波形，10 ns 可编程分辨率

高压脉冲发生器单元(PGU)

• 两个高速脉冲电压源通道
• ±40 V (80 V p-p)，± 800 mA
• 任意波形发生器 Segment ARB®模式，支持多电平脉冲波形，10 ns 可编程分辨率I-V/C-V 多通道开关模块 (CVIV)
• 在 I-V测量和 C-V 测量之间简便切换，无需重新布线或抬起探针
• 把 C-V测量移动到任意端子，无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/ 开关模块(RPM)
• 在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换
• 把 4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安
• 降低电缆电容效应

订购信息

4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件

210V/100mA，0.1 fA 分辨率用于两端器件和三端器件、MOSFET、CMOS 检定 4200A-SCS-PK1 套件包括：

• 4200A-SCS 参数分析仪
• 2 个 4200-SMU 模块
• 1 个 4200-PA 预放大器
• 1 个带有采样装置的 8101-PIV 测试夹具

4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件

210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 用于高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK2 套件包括：

• 4200A-SCS 参数分析仪
• 2 个 4200-SMU 模块
• 1 个 4200-PA 预放大器
• 1 个 4210-CVU 电容电压模块
• 1 个带有采样装置的 8101-PIV 测试夹具

4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件

210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 用于功率器件、高 κ 电介质、深度亚微米 CMOS 检定 4200A-SCS-PK3 套件包括：

• 4200A-SCS 参数分析仪
• 2 个 4200-SMU 模块
• 2 个 4210-SM
• 1 个 4200-PA 预放大器
• 1 个 4210-CVU 电容电压模块
• 1 个带有采样装置的 8101-PIV 测试夹具

4200-BTI-A 快速 NBTI/PBTI 套件

用于使用高端硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括：

• 1 个 4225-PMU 快速 I-V 模块
• 2 个 4225-RPM 远程预放大器/开关模块
• 自动化检定套件 (ACS) 软件
• 快速 BTI 测试项目模块
• 布线

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